市販の電源、計測機器をベースとして検査対象（ワーク）の試験環境を構築して検査を行います。
専用部のインターフェース回路を経由してワークへソース供給と負荷の設定を行い特性を検査します。
検査プログラムはパソコン上で実行／制御を行い、測定結果をデータベースへ保存し管理を行います。

検査対象（ワーク）の仕様に合わせた専用回路を用いて試験環境を構築して検査を行います。
CPU、FPGAを用いて主制御部を構築し、検査に必要になる電源または信号源の制御を行います。
パソコンと連動することで測定データの管理や外部機器の拡張性が広がります。

• ダイオード、トランジスタ、サイリスタなどの半導体素子の特性を測定する為の装置です
• 電圧源、電流源を装置に内蔵しており、１台でバイアスと計測を同時に行います
• 電子デバイスの製造品質、信頼性試験に使用される計測機器です
• カーブトレーサーのメーカー各社の販売／サポート終了による機能アップ、置換えなど等

電圧測定範囲

AC0～10,000V (10KV)

印加電圧

半波整流波

昇圧方式

手動スライダック式

出力インピーダンス

5KΩ / 50KΩ / 500KΩ 切替式

バイアス精度

±5% （トランス昇圧方式の為、1次入力電圧に依存）

測定精度

±1%

オートカット

0.1mA、1mA、10mA 電流検出により遮断

入力電源

AC100V 50/60Hz

• マルチチャネル(30ch)に対応した耐圧検査装置です
• 各チャネルに対して個別に絶縁耐圧検査を行います
• 電子デバイス、または絶縁性能の要求される製品の信頼性試験に
• 量産工程における絶縁試験の効率化に最適です

直流試験用電源

DC6,000V 10mA

交流試験用電源

AC5,000V 100mA

電流測定分解能

0.1uA

昇圧／降圧時間

1.0sec単位で設定可能

測定精度

±1%

プログラム

装置フロントパネル部 設定による

外部インターフェース

RS232C、USB （測定ログ出力用）

• マルチチャネル測定に対応した電子デバイスの特性を測定する為の装置です
• P1～P8 最大 8ch に対して任意の電圧、電流バイアスによる特性検査が可能です
• SDカードのデータ、またはSELECT スイッチによる設定に合わせて検査を行います
• 外部機器（PCなど）との接続／連動に対応した動作にも対応します

電圧設定範囲

DC0～2,000V (分解能 1.0V)

電流設定範囲

0～10mA (分解能 1.0uA)

電圧測定分解能

1.0V

電流測定分解能

0.1uA

バイアス精度

±0.5% (電圧、電流)

測定精度

±1% (電圧、電流)

プログラム

SDカード方式 (最大 64品種 各128パターン 登録可能)

外部インターフェース

RS232C、USB

設計方針

ハード設計における回路の機能や性能の確認、またソフト設計段階での処理速度、制御シーケンスの評価など、机上確認では品質を確保できない要素が多数あります。弊社ではこの問題を解決すべく、動作検証は計測機器によるモニター作業と並行した設計を推進しています。これにより、設計者のイメージと実際の挙動、制御タイミングのレベル合わせを行うだけでなく、１つのシステムが動作する上で必要になる処理スピードや安定性の確保、品質面など多くのメリットを生み出します。
お客様と効率の良いコンセンサスを取り受託開発・設計を円滑に進める為、弊社では計測機器や試作・実験環境として使用する機器を多数保有しています。過去の実績の中には、検査方法の模索や検査手法による効能の評価など、導入前の段階からお手伝いさせていただいた事例もあります。

評価基準

ハード設計における回路動作や接続に異常がないか、またソフト設計（プログラム）が正常動作するか実際に製造完了後の装置を使い実動作の確認を行います。
また要求仕様に基づき、正しく機能するか、装置が検査対象に対して悪影響を及ぼさないかの検証、連続動作に対する安定性の確認データを取得し出荷時の記録として残します。